应力双折射测量系统（WPA系列）可对相位差高达3500nm的样品进行测量，尤其适用于PC高分子材料。该系列产品由Photonic Lattic公司依托其先进的光子晶体制造技术研发而成，凭借独特的测量技术，成为业内领先的光学测量设备。
在测量过程中，该系统可对视野范围内的样品实现一次性全域测量，从而全面获取应力分布信息。其中，WPA-200型堪称市场上的通用型测量设备，适用于光学薄膜及透明树脂的检测。其测量结果可实现量化呈现，通过二维图表能更直观地读取数据。应力双折射测量系统WPA-200主要特点操作简便，测量速度快至3秒。搭载CCD相机，可对视野范围内的样品进行一次性测量，测量范围广泛。测量数据以二维分布图像形式呈现，便于直观读取信息。具备多种分析功能及测量结果比对功能。维护简便，不含旋转光学滤片机构。是市场占有率较高的残余应力测量设备。主要应用领域光学零件：镜片、薄膜、导光板等。透明成型品：车载透明零件、食品容器等。透明树脂材料：PET、PVA、COP、ACRYL、PC、PMMA、APEL、COC等。透明基板：玻璃、石英、蓝宝石、单晶钻石等。有机材料：球晶、FishEve等。
